Математические методы анализа результатов исследования диэлектриков

Николай Васильевич Егоров; Андрей Геннадьевич Карпов; Сергей Павлович Соболев

doi:10.21638/11701/spbu10.2023.207

Авторы

Николай Васильевич Егоров Санкт-Петербургский государственный университет, Российская Федерация, 199034, Санкт-Петербург, Университетская наб., 7-9
Андрей Геннадьевич Карпов Санкт-Петербургский государственный университет, Российская Федерация, 199034, Санкт-Петербург, Университетская наб., 7-9
Сергей Павлович Соболев Санкт-Петербургский государственный университет, Российская Федерация, 199034, Санкт-Петербург, Университетская наб., 7-9

DOI:

https://doi.org/10.21638/11701/spbu10.2023.207

Аннотация

К наиболее информативным методам изучения диэлектрических материалов относится анализ процессов их поляризации и деполяризации. Наиболее подходящим представлением является диэлектрическая диаграмма в комплексной плоскости (диаграмма Арганда). Часто диэлектрическую диаграмму рассматривают как совокупность пересекающихся частей окружностей, по крайней мере, для предварительной обработки. В работе предложены средства моделирования диэлектрической диаграммы путем совокупности частей окружностей.

Ключевые слова:

диэлектрическая диаграмма, часть окружности

Скачивания

Данные скачивания пока недоступны.

Библиографические ссылки

Литература

Hyde P. J. Wide-frequency-range dielectric spectrometer // Proceedings of IEE. 1970. Vol. 117. N 9. P. 1891-1901.

Алмазов А. А., Егоров Н. В., Резников М. А. Микропроцессорная система релаксационной хронометрии диэлектриков // Методы и средства диагностики несущей способности изделий из композитов: Практика создания и применения / oтв. ред. В. А. Латишенко. Рига: Зинатне, 1991. Т. 2. С. 125-131.

Karpov A. G., Egorov N. V. Automated dielectrometer // Приборы и техника эксперимента. 1999. № 6. С. 63-67.

Карпов А. Г., Клемешев В. А. Диагностика диэлектрических материалов с несколькими группами времен релаксации // Журн. технич. физики. 2018. Т. 88. № 4. С. 634-637.

Macdonald J. R., Schoonman J., Lehnen A. P. The applicability and power of complex nonlinear least squares for analysis of impedance and admittance data // J. Electroanal. Chem. 1982. Vol. 131. P. 77-83.

Noble B. Applied linear algebra. Prentice-Hall: Englewood Cliffs, 1969. 186 p.

References

Hyde P. J. Wide-frequency-range dielectric spectrometer. Proceedings IEE, 1970, vol. 117, no. 9, pp. 1891-1901.

Almazov A. A., Egorov N. V., Reznikov M. A. Mikroprotsessornaia sistema relaksatsionnoi khronometrii dielektrikov [The microprocessor system chronometry dielectric relaxation]. Metody i sredstva diagnostiki nesushchei sposobnosti izdelii iz kompozitov: Praktika sozdaniia i primeneniia [ Methods and means of diagnosis of bearing capacity of composite products: Creating and using practice ]. Riga, Zinatne Publ., 1991, vol. 2, pp. 125-131. (In Russian)

Karpov A. G., Egorov N. V. Automated dielectrometer. Pribory i tekhnika eksperimenta [ Instruments and technology of experiments ], 1999, no. 6, pp. 63-67.

Karpov A. G., Klemeshev V. A. Diagnostika dielektricheskikh materialov s neskol'kimi gruppami vremen relaksatsii [The diagnosis of dielectric matrials with number of relaxation times]. Journal of Technical Physics, 2018, vol. 88, no. 4, pp. 634-637. (In Russian)

Macdonald J. R., Schoonman J., Lehnen A. P. The applicability and power of complex nonlinear least squares for analysis of impedance and admittance data. J. Electroanal. Chem., 1982, vol. 131, pp. 77-83.

Noble B. Applied linear algebra. Prentice-Hall, Englewood Cliffs Publ., 1969, 186 p.