Егоров, Николай Васильевич, и др. «Методы матриц переноса и рассеяния для численного определения коэффициентов отражения и преломления тонкопленочных материалов». Вестник Санкт-Петербургского университета. Прикладная математика. Информатика. Процессы управления, т. 20, вып. 4, декабрь 2024 г., сс. 432–445, doi:10.21638/spbu10.2024.401.