[1]
Н. В. Егоров, А. Г. Федоров, и В. В. Трофимов, «Методы матриц переноса и рассеяния для численного определения коэффициентов отражения и преломления тонкопленочных материалов», ВЕСТНИК.СПбГУ.ПМ.И.ПУ, т. 20, вып. 4, сс. 432–445, дек. 2024.