(1)
Егоров, Н. В.; Федоров, А. Г.; Трофимов, В. В. Методы матриц переноса и рассеяния для численного определения коэффициентов отражения и преломления тонкопленочных материалов. ВЕСТНИК.СПбГУ.ПМ.И.ПУ 2024, 20, 432–445.