Егоров, Н.В. и др. 2024. Методы матриц переноса и рассеяния для численного определения коэффициентов отражения и преломления тонкопленочных материалов. Вестник Санкт-Петербургского университета. Прикладная математика. Информатика. Процессы управления. 20, 4 (дек. 2024), 432–445. DOI:https://doi.org/10.21638/spbu10.2024.401.